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Sep 09-11, Leoben, Austria - Navigated Atomic Force Microscopy - N8 NEOS
Sep 15, Free Webinar - 17th Bruker Users‘ Group Meetings 2010 - Single Crystal X-ray Diffraction
Sep 19-22, Karlsruhe, Germany - Good Diffraction Practice III - Powder XRD Instrumentation and Data Quality
Sep 30, Free Webinar - COM2010 - Conference of Metallurgists
Oct 03-06, Vancouver, British Columbia, Canada
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MLplus - Multilayer- und Dünnschichtanalyse mit RFA
Die Lagendicke und die chemische Zusammensetzung von Multilayer-Proben kann mit Hilfe der Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA) leicht bestimmt werden. Die Multilayer-Proben werden direkt mit dem wellenlängendispersiven Röntgenfluoreszenzspektrometer (WDRFA) S4 PIONEER oder S8 TIGER analysiert.
MLplus erweitert SPECTRAplus für die Analyse von Singlelayer- und Multilayer-Proben mit der wellenlängendispersiven Röntgenfluoreszenzanalyse (WDRFA). Dieses Softwareprogramm ermöglicht die direkte Bestimmung von Dicke und Zusammensetzung von mehrschichtigen Proben bis hinunter zu mehreren Atomschichten (unter 1 nm) und bis in den µm- bzw. sogar den mm-Bereich.
MLplus verwendet zur Berechnung die Methode der Fundamentalparameter. Die Bestimmung von Dicke und Zusammensetzung in MLplus basiert auf der standardlosen Kalibrierung von SPECTRAplus, d. h. es sind keine spezifischen Multilayer-Standards erforderlich. Zur Optimierung der Ergebnisse kann jedoch jeder verfügbare Multilayer-Standard verwendet werden.
MLplus kann zur automatischen Auswertung nach jeder einzelnen Messung verwendet werden, sobald ein Modell erstellt wurde. Damit steht die Multilayer-Analyse der routinemäßigen Prozeßkontrolle zur Verfügung, z. B. bei der Produktion von mehrschichtigem Glas oder beschichtetem Stahl.

